—— PROUCTS LIST
EMC測試的那些項目
EMC檢測(電磁兼容性檢測)的全稱是Electro Magnetic Compatibility,其定義為“設(shè)備和系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力" 該定義包含兩個方面的意思,首先,該設(shè)備應(yīng)能在一定的電磁環(huán)境下正常工作, 即該設(shè)備應(yīng)具備一定的電磁抗擾度(EMS);其次,該設(shè)備自身產(chǎn)生的電磁騷擾不能對其他電子產(chǎn)品產(chǎn)生過大的影響,即電磁騷擾 (EMI)。
EMI的檢驗項目
①諧波電流(2~40次諧波)
②閃爍Flicker
③傳導(dǎo)騷擾(CE)
④輻射騷擾(RE)
EMS的檢驗項目
①. 靜電放電抗擾度(ESD);
②. 輻射電磁場(80MHz~1000 MHz)抗擾度(RS);
③. 電快速瞬變/脈沖群抗擾度;(EFT)
④. 浪涌(雷擊)抗擾度;(Surge)
⑤. 注入電流(150kHz~230MHz)抗擾度(CS);
⑥. 電壓暫降和短時中斷抗擾度
1、Harmonic(諧波測試)
Standard:EN61000-3-2
a) 規(guī)定向公共電網(wǎng)發(fā)射的諧波電流的限值。
b)由在特定環(huán)境下被測設(shè)備產(chǎn)生的輸入電流的諧波成分的限值。
c) 適用于輸入電流小于或等于16A的接入公共低電壓網(wǎng)絡(luò)的電子電氣設(shè)備。
諧波測試主要是檢驗低壓供電網(wǎng)絡(luò)中的諧波可能對這些頻率敏感的設(shè)備所產(chǎn)生的影響。
諧波實驗原理:由于電子設(shè)備的工作模式、非線性元件和各種干擾噪聲等原因,導(dǎo)致其輸入電流不是*的正炫波,往往含有豐富的高次諧波成分對電網(wǎng)造成污染。
電力系統(tǒng)中的諧波指的是那些頻率為供電系統(tǒng)額定頻率整數(shù)倍的
正弦電壓或正弦電流。
公共輸電系統(tǒng)出現(xiàn)諧波電流會引起以下問題﹕
1、損失更多電能﹐每一個諧波都有無功功率部分、有功功率部分﹐(其中有功功率會令導(dǎo)線發(fā)熱﹐導(dǎo)致導(dǎo)線要采用更大面積);
2、電子部件使用壽命縮短;
3、電壓失真導(dǎo)致電機(jī)效率降低
2. 電壓波動和閃爍 Flicker
Standard: EN 61000-3-3
a)對定電壓波動和閃爍對公共電網(wǎng)的影響的限值。
b) 在特定的條件下被測樣機(jī)產(chǎn)生的電壓變化限值和評估方法的指導(dǎo)。
c)適用于每相輸入電流小于或等于16A的接入公共低電壓網(wǎng)絡(luò)的220V到250V,50Hz的電子電氣設(shè)備
該標(biāo)準(zhǔn)的目的是為了保證產(chǎn)品不對與其連接在一起的照明設(shè)備造成過度的閃爍影響(燈光閃爍)。
3.傳導(dǎo)騷擾 CE (0.15-30MHz)
Standard:EN61000-6-4
A) 電子電氣測量測試設(shè)備
B)電子電氣控制設(shè)備
C)電子電氣實驗室設(shè)備
傳導(dǎo)騷擾實驗原理:
當(dāng)電子設(shè)備干擾噪聲的頻率小于30MHz, 主要干擾音頻頻段,電子設(shè)備的電纜對于這類電磁波的波長來說,還不足一個波的波長(30MHz的波長為10m), 向空中輻射的效率很低,這樣若能測得電纜上感應(yīng)的噪聲電壓,就能衡量這一頻段的電磁噪聲干擾程度,這類噪聲就是傳導(dǎo)噪聲。
LISN的作用:
1.在EUT及供電電源之間起高頻隔離作用,避免來自供電電源的噪聲進(jìn)入EUT,
影響測量結(jié)果。
2.模擬實際的供電電源阻抗,為EUT的電源端子間提供規(guī)定的阻抗,以使測量結(jié)果統(tǒng)一化。
3.保持測試頻段內(nèi)的阻抗穩(wěn)定為50歐,以實現(xiàn)與測量接收機(jī)/頻譜分析儀的輸入
阻抗匹配。
4.輻射騷擾 RE (30-1000MHz)
Standard:EN61000-6-4
a)電子電氣測量測試設(shè)備
b)電子電氣控制設(shè)備
c)電子電氣實驗室設(shè)備
輻射騷擾實驗原理:
當(dāng)天線的總長度大于信號波長λ的1/20,會向空間產(chǎn)生有效的輻射發(fā)射,當(dāng)天線的長度為λ/2的整數(shù)倍時,輻射的能量最大。當(dāng)噪聲頻率大于30MHz時,電子設(shè)備的電纜,開孔、縫隙都容易滿足上述條件,形成輻射發(fā)射。
5.靜電放電 ESD
Standard: IEC 61000-4-2 Criteria B
目的是檢驗單個設(shè)備或系統(tǒng)抗靜電泄放干擾的能力。
實驗原理:ESD實驗是模擬人體、物體在接觸設(shè)備時產(chǎn)生的靜電放電或人體、物體對鄰近物體的放電包括直接通過能量的交換,引起器件的損壞或放電所引起的近場(電場和磁場的變化),造成設(shè)備的誤動作。
6、輻射抗擾度 RS
Standard: IEC 61000-4-3 Criteria A
目的是檢驗單個設(shè)備或系統(tǒng)抗電場干擾的能力。
7、快速脈沖群 EFT/Burst
Standard: IEC 61000-4-4 Criteria B
實驗?zāi)康氖强疾靻蝹€設(shè)備或系統(tǒng)抗快速瞬變干擾的能力,這些瞬變騷擾是由于感性負(fù)載的中斷等瞬變動作,導(dǎo)致脈沖成群的出現(xiàn),脈沖重復(fù)頻率高,上升時間短,單個脈沖能量低等會導(dǎo)致設(shè)備誤動作。
8.雷擊浪涌 Surge
Standard: IEC 61000-4-5 Criteria B
實驗?zāi)康氖强疾霦UT抗浪涌干擾的能力,這些瞬變騷擾是由于其他設(shè)備的故障短路,主電源系統(tǒng)切換,間接雷擊等產(chǎn)生的干擾。
9.傳導(dǎo)射頻干擾 CS
Standard: IEC 61000-4-6 Criteria A
實驗?zāi)康氖强疾靻蝹€設(shè)備或系統(tǒng)抗傳導(dǎo)騷擾的能力。
實驗原理:主要考察外界從導(dǎo)線或電纜而引入的0.15MHz-80MHz的連續(xù)干擾電壓時的抗擾性。
10.公頻磁場 Rated power frequency magnetic field
Standard: IEC 61000-4-8 Criteria A
實驗驗?zāi)康氖强疾霦UT抗磁場干擾的能力。
*針對工業(yè)環(huán)境要求
*針對磁敏感設(shè)備,
11.電壓暫降和跌落 Dips
Standard: IEC 61000-4-11 Criteria B & C
實驗驗?zāi)康氖强疾霦UT抗電壓跌落和暫降的能力。